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美國MODERN MICROSCOPY SCANNING 2003展覽會

1．展會地點： 　 美國 加利福尼亞 圣地亞哥 2．展會時間： 　 2003年3月3日至2003年3月5日 3．參展截止日期 　 2002年12月2日　 4．會議內容 · 學術會議  · 社會事件  · 頒獎典禮 · 短期課程：     掃描電子顯微鏡論壇    掃描電子顯微鏡的介紹     在SEM中的X射線微量分析     生物材料的低電壓，低溫度的SEM和X射線微量分析     使用3-D顯微鏡方法的新儀器     顯微鏡外觀圖像藝術    該會議為所有對掃描電子、掃描探頭和掃描光學顯微鏡感興趣的專業人士提供了一個各學科間快速交流信息的國際性媒介。    如有意參展，請與我們聯系。聯系電話：021-54241477 韓先生

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