該項研究目的是探討難治性內(nèi)側(cè)顳葉癲癎（MTLE）患者影像學(xué)異常及發(fā)作間期放電（IEDs）優(yōu)勢側(cè)對近期記憶損害的影響。方法采用納入2006年9月至2007年4月我院癲癎中心門診就診的難治性MTLE患者50例，根據(jù)MRI海馬像檢查將其分為左側(cè)MRI（＋）組、右側(cè)MRI（＋）組、MRI（-）組及雙側(cè)MRI（＋）組。綜合多次IEDs結(jié)果進行評定，若一側(cè)獨立IEDs≥75％，則判為IEDs優(yōu)勢側(cè)。采用臨床記憶量表（CMS）對患者進行記憶評定。結(jié)果年齡、性別、職業(yè)、文化程度、是否來自農(nóng)村、病程、發(fā)作情況、藥物治療各因素在4組間的分布相匹配。各組記憶商（MQ）及分量表的年齡量表分比CMS正常均數(shù)差（P〈0．05）。右側(cè)MRI（＋）組無意義圖形再認得分（9．42±7．46）相對于左側(cè)MRI（＋）組（16．26±4．43）和MRI（-）組（18．26±5．49）低（F=4．281，P〈0．05）。MRI（-）者中左側(cè)IEDs、右側(cè)IEDs、雙側(cè)IEDs 3組間MQ及各分量表的年齡量表分值均無統(tǒng)計學(xué)意義。由此得出結(jié)論右側(cè)MRI（＋）MTLE患者在空間圖形記憶方面的損害更加顯著，無意義圖形再認對于非語言記憶的評價有較高的特異性。