一種功能強大具有亞埃級高分辨率的電子顯微鏡已經被研制成功。該顯微鏡簡單易用，其設計是用于滿足納米研究和工業上的需求。

這款Titan掃描透射式電子顯微鏡（S/TEM）是FEI公司（Hillsboro， OR， USA； www.feicompany.com）的產品。該顯微鏡設計中采用了專用高度升級的色差校正系統，這就使校正器和單色器技術進入了主流的納米技術研究和工業市場。

由于其設計、性能和創新，該顯微鏡已經贏得了四個獎項。包括德國的國際設計論壇授予的iF獎、美國俄勒岡州技術獎的年度創新產品獎。這款電子顯微鏡也被美國的幾家報刊評選為2005年度最佳產品。

由于世界各國政府相關機構開發小分子需求的看漲，隨著半導體制造商不斷推進設計制造業45納米模式，制造超高分辨率成像的輸入，作為一項技術先進的研究工作仍將在繼續，并在向納米規模發展。

第一臺Titan S/TEMs顯微鏡在2005年下半年中被安裝。世界其它各地也正在進行安裝。為了滿足需求，FEI公司正在不斷加緊生產。FEI公司為納米技術離子和電子束技術提供研究工具，致力于提高亞埃級分辨率的三維（3D）特征分析和校正能力。

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