為專門滿足材料科學、微機械學、電子學和生物學應用的特殊需求，特別設計了一種小型的新式高分辨率計算機斷層成像（CT） x光分析系統。

生產自動化系統專家Contax公司（Fareham，UK）宣布nanotom CT x光分析系統已經上市，它是由Phoenix x光系統服務公司（St. Petersburg，FL，USA；www.phoenix-xray.com）研制而成的。該系統特別適合于傳感器、復雜機電一體化樣品、微電子器件以及各種類型的材料樣品——如合成材料、陶瓷、復合材料和巖礦樣品等——的三維（3D）檢查，。

這個系統的結構極為緊湊，它是由花崗巖基質的CT構架（里面帶有一支Phoenix 公司的160 kV高能納米聚焦x線球管）和空間分辨率在500納米（0.5微米）以下的特制數字檢測器組成的。

這個全數字式檢測器的分辨率高達5兆像素，測量范圍也可擴展到最大極限分辨率。Nanotom 可檢測最大直徑為120 毫米（4.7 英寸）且重達1千克（

收藏本文到: